PC±â¹Ý µ¥ÀÌÅÍ ¼öÁýÀåÄ¡ Data Acquisition System

LTT184 / LTT186 Transient Recorder
°í¼Ó»ùÇøµ µ¥ÀÌÅͷΰÅ
ä³Î´ç 1kHz¿¡¼­ 20MHzÀÇ °í¼Ó»ùÇøµ¼Óµµ¿¡¼­ 8~16ä³ÎÀÇ Â÷µ¿ÀÔ·Â,40GB HDD ³»Àå(LTT186)
Ãæµ¹Å×½ºÆ®,¿¡¾î¹éÅ×½ºÆ®,Power Train,RPM,Áøµ¿ÃøÁ¤µî Àå½Ã°£ ºü¸¥ »ùÇøµÀÌ ¿ä±¸µÇ´Â ½ÃÇè¿¡ ÀûÇÕ
DIAdem,FAMOS,MATLAB,LabVIEW,Mgraph Æ÷¸ËÁö¿ø
µ¶ÀÏ LTT GmbH Á¦Ç°


LTT SensorCorder
°í¼Ó»ùÇøµ ¼¾¼­ µ¥ÀÌÅͷΰÅ
LTT SensorCorder´Â À̵¿ÀÌ Æí¸®ÇÑ 8ä³Î ¶Ç´Â 16ä³Î Volt / Strain Gauge / ICP ÀÔ·ÂÀÇ 500kHz,
16-Bit °í¼Ó»ùÇøµ °íºÐÇØ´É Æ÷ÅÍºí·¹ÄÚ´õÀÔ´Ï´Ù.(40GB ³»ÀåHDD ¿É¼Ç)
ä³Î°£ Galvanic IsolationÀ¸·Î º¸È£µÇ¾îÀÖ°í 19ÀÎÄ¡ RACKÇüÀ¸·Î 32ä³Î¼±Åõµ °¡´ÉÇÕ´Ï´Ù.
DIAdem,FAMOS,MATLAB,LabVIEW,Mgraph Æ÷¸ËÁö¿ø
µ¶ÀÏ LTT GmbH Á¦Ç°


E.bloxx ½Ã¸®Áî
PC-¿¬°áÇü µ¥ÀÌÅͼöÁý ½Ã½ºÅÛ
ºÐ¸®, ÅëÇÕ ¼³°è°¡ ÀÚÀ¯·Î¿î ÀÎÅÚ¸®Á¯Æ® µ¥ÀÌÅͼöÁýÁ¦¾î½Ã½ºÅÛ
´Ù¾çÇÑ ¾Æ³¯·Î±×/µðÁöÅнÅÈ£ ÀÔÃâ·ÂÁ¦°ø, PWMÃâ·Â, Àüä³Î Àý¿¬ 19Bit ºÐÇØ´É, ÃÖ´ë 5kHz»ùÇøµ
µ¶ÀÏ Gantner Instrument Á¦Ç°


Test Controller
Test AutomationÀ» À§ÇÑ ÃÖ»óÀÇ ¼º´ÉÀ» Á¦°øÇÏ´Â Test Controller
4Á¾ÀÇ Test Controller´Â e.bloxx ¸ðµâÀÇ °áÇÕ°ú ÇÔ²² ´Ù¾çÇÑ ÃøÁ¤°ú ½ÃÇèÀÇ À¶Å뼺À» Á¦°øÇÕ´Ï´Ù.


e.rack
E.bloxx SystemÀ» 19¡± Rack system(3 HU)À¸·Î ±¸¼º.
ÇÑ °³ÀÇ ·¢½Ã½ºÅÛ´ç ÃÖ´ë 80ä³ÎÀÇ ¸ÖƼÆã¼Ç °¥¹Ù´ÐÀý¿¬ ¾Æ³¯·Î±×ÀÔ·Â
ÅÍÄ¡½ºÅ©¸° µð½ºÇ÷¹ÀÌ¿Í PAC(Programmable Automation Controller)°¡ ¿É¼ÇÀ¸·Î °ø±Þ


e.rack slimline
°ø°£È¿À²¼ºÀ» ³ôÀÎ ½½¸²Çü 19¡± Rack system(1 HU)À¸·Î ±¸¼º.
ÇÑ °³ÀÇ ·¢½Ã½ºÅÛ´ç 16ä³ÎÀÇ ¸ÖƼÆã¼Ç °¥¹Ù´ÐÀý¿¬ ¾Æ³¯·Î±×ÀԷ°ú 64ä³ÎÀÇ µðÁöÅÐÀÔ·Â.
19-bit ºÐÇØ´É°ú 1000Hz »ùÇøµÀ¸·Î Carrier frequency¹æ½ÄÀÇ ½ºÆ®·¹ÀÎ, LVDTÃøÁ¤


e.wave
8ä³Î ¸ÖƼÆã¼ÇÀÔ·Âä³Î°ú 8ä³Î Carrier frequency ÀÔ·ÂÇüÀÇ ÄÄÆÑÆ®µðÀÚÀÎÀÇ µ¥ÀÌÅÍ ¼öÁýÀåÄ¡ÀÔ´Ï´Ù.
4ä³Î 10kHzÀÇ °í¼Ó»ùÇøµ ¸ðµ¨À» ¼±ÅÃÇÒ ¼öÀÖÀ¸¸ç, ¾Æ³¯·Î±× Ãâ·Â°ú µðÁöÅÐ I/O ¿É¼ÇÀ» ¼±ÅÃÇÒ ¼öÀÖ½À´Ï´Ù


¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î
Gantner Á¦Ç°ÀÇ E.bloxx, Test Controller, e.rack systemÀ» À§ÇÑ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾îÀÔ´Ï´Ù.



»óÈ£:  (ÁÖ)À妽ºÆ¼¿¥   /   ÁÖ¼Ò: °æ±âµµ ¼º³²½Ã ºÐ´ç±¸ Á¤ÀÚµ¿24 ÀÎÅÚ¸®Áö¥±, Bµ¿ 2901È£
»ç¾÷ÀÚµî·Ï¹øÈ£: 214-03-16174   /   ¹®ÀÇÀüÈ­: 031-6050-6600   /   ÆÑ½º¹øÈ£: 02-6280-7791
Copyright @ 2000-2010 INDEXTM Corporation All Right Reserved